頻譜(pu)分析儀可以進行信(xin)號(hao)的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)量(liang)，比如基站(zhan)信(xin)號(hao)的(de)(de)覆蓋強(qiang)度，覆蓋范(fan)圍(wei)，屏蔽器(qi)的(de)(de)信(xin)號(hao)屏蔽效果(guo)，發射頻段、以及(ji)一些電(dian)器(qi)設備(bei)(bei)的(de)(de)電(dian)磁泄露等。在(zai)一些科研單(dan)位或測(ce)(ce)(ce)評單(dan)位，測(ce)(ce)(ce)評一些設備(bei)(bei)是否符合(he)標(biao)準(zhun)時(shi)。主(zhu)要功(gong)能在(zai)于量(liang)測(ce)(ce)(ce)信(xin)號(hao)的(de)(de)大小或振幅，還于應用系統維護組件的(de)(de)頻率增益與(yu)物料品管等其他方面。
頻(pin)譜分(fen)析(xi)儀測試前的準備工作有(you)那些：
1、限制性保護：規定最(zui)高輸入射頻電平(ping)和造成損壞的最(zui)高電壓值：直流25V，交流峰峰值100V。
2、預(yu)熱(re)：測試須等到OVERCOLD消失(shi)。
3、自(zi)校：使用三(san)個月，或重要(yao)測量(liang)前，要(yao)進行自(zi)校。
4、系統測(ce)量配(pei)置(zhi)：配(pei)置(zhi)是測(ce)量之前把測(ce)量的一(yi)些參數輸(shu)入(ru)進(jin)(jin)去(qu)(qu)，省去(qu)(qu)每次(ci)測(ce)量都(dou)進(jin)(jin)行一(yi)次(ci)參數輸(shu)入(ru)。
內容：測試(shi)項目、信號輸入(ru)方式(shi)(頻率還(huan)是頻道(dao))、顯示單(dan)位、制(zhi)式(shi)、噪聲測量帶寬和取樣點、測CTB、CSO的頻率點、測試(shi)行選通等。
頻譜分析儀(yi)讀取結果的方法：
1、電平(ping)(ping)的讀取：主要使用(yong)參(can)考電平(ping)(ping)REF。儀器屏幕圖(tu)形上(shang)最上(shang)邊的一行(xing)水平(ping)(ping)線(xian)是參(can)考電平(ping)(ping)線(xian)。該線(xian)表(biao)示(shi)的電平(ping)(ping)為參(can)考電平(ping)(ping)，其數(shu)值(zhi)和單位顯示(shi)在屏幕左上(shang)角。參(can)考電平(ping)(ping)的值(zhi)可以改變：按AMPLITUDE硬鍵(jian)，旋(xuan)轉(zhuan)大旋(xuan)鈕就可以改變，數(shu)字隨時顯示(shi)出(chu)來。圖(tu)形每格的分貝數(shu)dB/DIV顯示(shi)在屏幕左上(shang)角。
2、頻(pin)(pin)(pin)率(lv)的讀取：圖形里的中(zhong)心(xin)頻(pin)(pin)(pin)率(lv)、起始(shi)頻(pin)(pin)(pin)率(lv)、終止(zhi)頻(pin)(pin)(pin)率(lv)三條豎線，各自(zi)代(dai)表的頻(pin)(pin)(pin)率(lv)數顯示在屏幕的下方。中(zhong)心(xin)頻(pin)(pin)(pin)率(lv)由Frequency硬(ying)鍵(jian)旋(xuan)大旋(xuan)鈕(niu)調整；起始(shi)和終止(zhi)頻(pin)(pin)(pin)率(lv)由Span硬(ying)鍵(jian)旋(xuan)大旋(xuan)鈕(niu)調整(實際是(shi)改變掃描寬度)。
3、光標(biao)的(de)(de)使用：按(an)MKR鍵，屏(ping)幕(mu)曲(qu)線上將出(chu)現閃動的(de)(de)光標(biao)。光標(biao)所(suo)在(zai)位(wei)置的(de)(de)電平和(he)頻率顯示在(zai)屏(ping)幕(mu)左上角(jiao)。光標(biao)可任意移動，移動到什(shen)么(me)位(wei)置，就(jiu)顯示什(shen)么(me)地方的(de)(de)頻率和(he)電平。
